高分辨 X 射线吸收谱仪

项目 | 指标/参数 |
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厂家 | 国创科学仪器(苏州)有限公司 |
型号 | Super XAFS |
能量范围 | 2 ~ 20 keV |
能量分辨率 | 0.5 ~ 1.5 eV |
光通量 | 5×10^5 photons/s |
重复性 | <50 meV 能量偏移 |
主要功能
X 射线吸收谱技术是研究复杂组分体系中特定元素近邻配位结构和电子结构的重要手段,广泛应用于能源材料、化学、物理学等领域。利用该台式 X 射线吸收谱,在常规实验室可实现了X射线吸收精细结构测量和分析,为材料分析检测提供技术支持。
服务项目
- 获取元素近邻局域结构信息,如配位元素的种类、价态、键长、配位数。
- 可集成辅助设备,实现原位表征,如高温、低温、高压、气氛等原位条件。
- 适用于多种材料结构体系:钙钛矿、尖晶石、MOF、MXene等材料。
- 可满足 3d 金属 K 边、部分 4d 金属 K 边 / L 边、5d 金属 L 边 / M 边、镧系金属 L 边。
样品要求
固体样品,大小 10mm x 10mm 以内。